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高壓加速老化試驗箱(HAST)適用于半導體芯片行業以及民用航空、商業航天、船舶、汽車、新能源、科研院校等領域電子部品、元器件、集成電路以及材料、工藝等通過加速進行高溫、高濕、高壓循環及恒定試驗測試來確認其是否因耐久性(壽命)或環境變化而導致功能失效。
| 產品名稱 | 高壓加速老化試驗箱（HAST） | |
| 產品型號 | HPSC251-M | HPSC252-M |
| 工作室容積 | 51L | 51 L × 2罐 |
| 工作室尺寸 | φ 380 × D450(R × D) | φ 380 × D450(R × D)× 2罐 |
| 儲罐尺寸 | φ 450 × D600(R × D) | φ 450 × D600(R × D)× 2罐 |
| 外部尺寸 | 1200 × 1960 × 1140毫米（寬×高×深） | 1200 × 2170 × 1140毫米（寬×高×深） |
| 溫度范圍 | 105℃～150℃ | |
| 溫度波動 | ≤±0.5℃ | |
| 溫度均勻性 | ≤2℃ | |
| 溫度偏差 | ±2℃ | |
| 壓力范圍 | 110kPa~300kPa（絕對壓力） | |
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